fbpx
Wikipedia

Microscopio de iones en campo

La microscopía de iones en campo (FIM) es una técnica analítica empleada en ciencia de materiales. El microscopio de iones en campo es una variedad de microscopio que puede ser usado para visualizar la ordenación de los átomos que forman la superficie de la punta afilada de una aguja de metal. Fue la primera técnica con la que se consiguió resolver espacialmente átomos individuales. La técnica fue desarrollada por Erwin Müller. En 1951 se publicaron por primera vez imágenes de estructuras atómicas de tungsteno en la revista Zeitschrift für Physik.

Imágenes obtenidas al microscopio de iones con un cátodo de tungsteno. El sistema muestra la localización de manchasen el borde de átomos individuales. La disposición anular los puntos es una foto de una red cúbica en una superficie esférica
Diagrama de microscopía deiones

En la FIM, se produce una aguja de metal afilada y se coloca en una cámara de ultra alto vacío, que después se llena con un gas visualizador tal como el helio o el neón. La aguja se enfría hasta alcanzar temperaturas criogénicas (20-100 K). Luego se aplica un voltaje positivo que va de 5.000 a 10 000 voltios sobre la punta. Los átomos de gas absorbidos por la punta se ven ionizados por el fuerte campo eléctrico que existe en las proximidades de ella. La curvatura de la superficie cercana a la punta provoca una imanación natural; los iones son repelidos bruscamente en dirección perpendicular a la superficie (un efecto de "proyección de punto"). Se coloca un detector de modo que pueda recoger esos iones repelidos; y la imagen formada por todos los iones repelidos puede tener la resolución suficiente como para mostrar átomos individuales en la superficie de la punta.

Al contrario que los microscopios convencionales, donde la resolución espacial se ve limitada por la longitud de onda de las partículas empleadas en la visualización, el microscopio basado en FIM funciona por proyección y alcanza resoluciones atómicas, con un aumento aproximado de unos pocos millones.

Enlaces externos

  •   Datos: Q550608
  •   Multimedia: Field-ion microscopy

microscopio, iones, campo, microscopía, iones, campo, técnica, analítica, empleada, ciencia, materiales, microscopio, iones, campo, variedad, microscopio, puede, usado, para, visualizar, ordenación, átomos, forman, superficie, punta, afilada, aguja, metal, pri. La microscopia de iones en campo FIM es una tecnica analitica empleada en ciencia de materiales El microscopio de iones en campo es una variedad de microscopio que puede ser usado para visualizar la ordenacion de los atomos que forman la superficie de la punta afilada de una aguja de metal Fue la primera tecnica con la que se consiguio resolver espacialmente atomos individuales La tecnica fue desarrollada por Erwin Muller En 1951 se publicaron por primera vez imagenes de estructuras atomicas de tungsteno en la revista Zeitschrift fur Physik Imagenes obtenidas al microscopio de iones con un catodo de tungsteno El sistema muestra la localizacion de manchasen el borde de atomos individuales La disposicion anular los puntos es una foto de una red cubica en una superficie esferica Diagrama de microscopia deiones En la FIM se produce una aguja de metal afilada y se coloca en una camara de ultra alto vacio que despues se llena con un gas visualizador tal como el helio o el neon La aguja se enfria hasta alcanzar temperaturas criogenicas 20 100 K Luego se aplica un voltaje positivo que va de 5 000 a 10 000 voltios sobre la punta Los atomos de gas absorbidos por la punta se ven ionizados por el fuerte campo electrico que existe en las proximidades de ella La curvatura de la superficie cercana a la punta provoca una imanacion natural los iones son repelidos bruscamente en direccion perpendicular a la superficie un efecto de proyeccion de punto Se coloca un detector de modo que pueda recoger esos iones repelidos y la imagen formada por todos los iones repelidos puede tener la resolucion suficiente como para mostrar atomos individuales en la superficie de la punta Al contrario que los microscopios convencionales donde la resolucion espacial se ve limitada por la longitud de onda de las particulas empleadas en la visualizacion el microscopio basado en FIM funciona por proyeccion y alcanza resoluciones atomicas con un aumento aproximado de unos pocos millones Enlaces externos EditarImagen generada mediante FIM Texto explicativo imagen anterior y mas Microscopios de iones de helio Datos Q550608 Multimedia Field ion microscopyObtenido de https es wikipedia org w index php title Microscopio de iones en campo amp oldid 134547794, wikipedia, wiki, leyendo, leer, libro, biblioteca,

español

, española, descargar, gratis, descargar gratis, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, imagen, música, canción, película, libro, juego, juegos