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Interferometría de moteado

La interferometría de moteado (interferometría speckle en inglés), consiste en el análisis de patrones de intensidad producidos por la interferencia mutua entre frentes de onda coherentes que son sujetos a diferencias de fase o fluctuaciones de intensidad. Estos patrones constituyen una valiosa fuente de información sobre la superficie iluminada. Distintos ejemplos de patrones Speckle se presentan cuando se ilumina una superficie rugosa con un haz láser o cuando la imagen de una estrella distante es observada a través de la atmósfera (Speckle Imaging). Además, con el uso de estos sistemas es posible analizar, en un solo punto, deformaciones o desplazamientos en la superficie de una muestra tanto en la dirección axial (modo out-plane) como en la dirección tangencial (modo in-plane).

Imagen tomada por una cámara digital del moteado producido por un puntero láser verde.

Métodos experimentales

El patrón speckle es producido al iluminar una superficie difusora con luz coherente. La interferencia de los frentes de onda dispersados produce una distribución de motas (speckles) de luz en el área iluminada. Los datos recogidos son analizados para obtener la parte de la señal que corresponde al desplazamiento o deformación del punto de la muestra donde se hizo la medida. Después la señal es observada a través de un osciloscopio y luego transferida a un ordenador para obtener su espectro de amplitud.

Dos haces, con la misma intensidad, son enfocados en un punto de la superficie iluminando un área de alrededor de   de diámetro. Entre los dos haces hay una diferencia de frecuencia ( ) (Dändliker & Willemin 1980) producida al hacer pasar la salida un láser a través de una rejilla acusto-óptica de Bragg. El haz láser es dividido en dos para luego irradiar la muestra con dos ángulos de incidencia iguales y opuestos a la normal de la superficie. La luz dispersada es detectada en la dirección del bisector del ángulo formado por los dos haces incidentes. Al ser un sistema heterodino, la frecuencia de la señal de interferencia resultante es igual a la diferencia entre las dos señales incidentes. La luz dispersada es detectada por un fotodiodo cuya apertura debe ser escogida de forma que al menos 100 speckles sean recogidos por el detector, así se asegura una suficiente potencia óptica media (Dändliker & Willemin 1980). El montaje para la medida por interferometría speckle para desplazamientos tangenciales (modo in-plane) se esquematiza en la siguiente figura:

 

Al registrar el patrón speckle antes   y después   de la deformación:

 

La diferencia entre estas dos intensidades es:  . Esta se hace cero cuando el desplazamiento   cumple la relación:  

Lo que quiere decir que cada franja que se observa en el interferograma puede ser interpretado como una variación de una longitud de onda ( ) en el camino óptico.

Para el sistema ilustrado, un desplazamiento   crea una variación en el camino óptico igual a  . Donde   es el ángulo formado entre el rayo de incidencia y la normal de la superficie,   es la longitud de onda y   es el desplazamiento en  .

Aplicaciones

Medida de frecuencias de vibración y deformaciones

En la medición de las frecuencias de vibración suelen utilizarse transductores piezoeléctricos que inducen y miden las vibraciones en una muestra. Por su naturaleza mecánica, los transductores deben estar en contacto con la pieza lo que conlleva a errores en los resultados. En comparación, los sensores ópticos no necesitan entrar en contacto con la muestra y por tanto la respuesta es más fiable y precisa. Entre sus otras ventajas está que las medidas por este sistema no son afectadas por las vibraciones ambientales de baja frecuencia, su ancho de banda es mucho más alto que el de un transductor y el límite del tamaño de detección es bastante pequeño ( ) (Bayón et al 1993).

Astronomía

La interferometría de moteado (en inglés "Speckle Interferometry") es usada como una técnica astronómica consistente en la captura de gran cantidad de imágenes fotográficas o CCD de corta exposición, mezcladas y procesadas por ordenador: el resultado muestra la imagen del objeto estudiado con mayor resolución, como si la atmósfera terrestre no se hubiese perturbado ni emborronado su aspecto original. Con esta novedosa técnica aumenta la resolución de los telescopios terrestres, pudiendo desdoblar sistemas binarios cerrados o apreciar cuerpos celestes de reducido tamaño (como un asteroide).

Analogías

Los patrones moteados también pueden ser observados en otros sistemas donde se produce interferencia aleatoria, incluyendo situaciones en las que, por ejemplo, el fenómeno no se observa a lo largo del espacio sino en el tiempo. Es el caso de la reflectometría óptica en el dominio del tiempo sensible a la fase, donde múltiples reflexiones de un punto coherente que se han generado en distintos instantes interfieren para producir una señal aleatoria en el dominio del tiempo.[1]


Referencias

  1. Garcia-Ruiz, Andres (2016). «Speckle Analysis Method for Distributed Detection of Temperature Gradients With Φ OTDR». IEEE Photonics Technology Letters 28 (18): 2000. doi:10.1109/LPT.2016.2578043. Consultado el 7 de junio de 2017. 
  • Dändliker, R.; Willemin, J.-f (1980). «Measurin microvibrations by heterodyne speckle interferometry». Optics Letters 6 (4). p. 165-167. 
  • Bayón A.; Gascón, F.; Varadé, A. (1993). «Measurement of the Longitudinal and Transverse Vibration Frequencies of a Rod by Speckle Interferometry». IEEE Trans.on Ultra., Ferro., and Freq. Control 40 (2). p. 265-269. 

Enlaces externos

    •   Datos: Q385216
    •   Multimedia: Speckle

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La interferometria de moteado interferometria speckle en ingles consiste en el analisis de patrones de intensidad producidos por la interferencia mutua entre frentes de onda coherentes que son sujetos a diferencias de fase o fluctuaciones de intensidad Estos patrones constituyen una valiosa fuente de informacion sobre la superficie iluminada Distintos ejemplos de patrones Speckle se presentan cuando se ilumina una superficie rugosa con un haz laser o cuando la imagen de una estrella distante es observada a traves de la atmosfera Speckle Imaging Ademas con el uso de estos sistemas es posible analizar en un solo punto deformaciones o desplazamientos en la superficie de una muestra tanto en la direccion axial modo out plane como en la direccion tangencial modo in plane Imagen tomada por una camara digital del moteado producido por un puntero laser verde Indice 1 Metodos experimentales 2 Aplicaciones 2 1 Medida de frecuencias de vibracion y deformaciones 2 2 Astronomia 3 Analogias 4 Referencias 5 Enlaces externosMetodos experimentales EditarEl patron speckle es producido al iluminar una superficie difusora con luz coherente La interferencia de los frentes de onda dispersados produce una distribucion de motas speckles de luz en el area iluminada Los datos recogidos son analizados para obtener la parte de la senal que corresponde al desplazamiento o deformacion del punto de la muestra donde se hizo la medida Despues la senal es observada a traves de un osciloscopio y luego transferida a un ordenador para obtener su espectro de amplitud Dos haces con la misma intensidad son enfocados en un punto de la superficie iluminando un area de alrededor de 20 m m displaystyle 20 mu m de diametro Entre los dos haces hay una diferencia de frecuencia D n 10 1 M H z displaystyle Delta nu approx 10 1 MHz Dandliker amp Willemin 1980 producida al hacer pasar la salida un laser a traves de una rejilla acusto optica de Bragg El haz laser es dividido en dos para luego irradiar la muestra con dos angulos de incidencia iguales y opuestos a la normal de la superficie La luz dispersada es detectada en la direccion del bisector del angulo formado por los dos haces incidentes Al ser un sistema heterodino la frecuencia de la senal de interferencia resultante es igual a la diferencia entre las dos senales incidentes La luz dispersada es detectada por un fotodiodo cuya apertura debe ser escogida de forma que al menos 100 speckles sean recogidos por el detector asi se asegura una suficiente potencia optica media Dandliker amp Willemin 1980 El montaje para la medida por interferometria speckle para desplazamientos tangenciales modo in plane se esquematiza en la siguiente figura Al registrar el patron speckle antes I x y displaystyle I x y y despues I x y displaystyle I x y de la deformacion u u 1 x y u 2 x y I x y u 1 2 x y u 2 2 x y 2 u 1 x y u 2 x y cos 8 x y I x y u 1 2 x y u 2 2 x y 2 u 1 x y u 2 x y cos 8 x y d x y displaystyle begin array rcl amp amp u u 1 x y u 2 x y I x y amp amp u 1 2 x y u 2 2 x y 2u 1 x y u 2 x y cos theta x y I x y amp amp u 1 2 x y u 2 2 x y 2u 1 x y u 2 x y cos theta x y delta x y end array La diferencia entre estas dos intensidades es 2 u 1 x y u 2 x y cos 8 x y d x y 2 u 1 x y u 2 x y cos 8 x y displaystyle 2u 1 x y u 2 x y cos theta x y delta x y 2u 1 x y u 2 x y cos theta x y Esta se hace cero cuando el desplazamiento D r displaystyle Delta r cumple la relacion d x y k D r 2 n p D r n l displaystyle delta x y k Delta r 2n pi longrightarrow Delta r n lambda Lo que quiere decir que cada franja que se observa en el interferograma puede ser interpretado como una variacion de una longitud de onda l displaystyle lambda en el camino optico Para el sistema ilustrado un desplazamiento d r displaystyle delta r crea una variacion en el camino optico igual a 4 p sin 8 d x l displaystyle 4 pi sin theta cdot delta x lambda Donde 8 displaystyle theta es el angulo formado entre el rayo de incidencia y la normal de la superficie l displaystyle lambda es la longitud de onda y d x displaystyle delta x es el desplazamiento en x displaystyle x Aplicaciones EditarMedida de frecuencias de vibracion y deformaciones Editar En la medicion de las frecuencias de vibracion suelen utilizarse transductores piezoelectricos que inducen y miden las vibraciones en una muestra Por su naturaleza mecanica los transductores deben estar en contacto con la pieza lo que conlleva a errores en los resultados En comparacion los sensores opticos no necesitan entrar en contacto con la muestra y por tanto la respuesta es mas fiable y precisa Entre sus otras ventajas esta que las medidas por este sistema no son afectadas por las vibraciones ambientales de baja frecuencia su ancho de banda es mucho mas alto que el de un transductor y el limite del tamano de deteccion es bastante pequeno 1 n m displaystyle approx 1nm Bayon et al 1993 Astronomia Editar La interferometria de moteado en ingles Speckle Interferometry es usada como una tecnica astronomica consistente en la captura de gran cantidad de imagenes fotograficas o CCD de corta exposicion mezcladas y procesadas por ordenador el resultado muestra la imagen del objeto estudiado con mayor resolucion como si la atmosfera terrestre no se hubiese perturbado ni emborronado su aspecto original Con esta novedosa tecnica aumenta la resolucion de los telescopios terrestres pudiendo desdoblar sistemas binarios cerrados o apreciar cuerpos celestes de reducido tamano como un asteroide Analogias EditarLos patrones moteados tambien pueden ser observados en otros sistemas donde se produce interferencia aleatoria incluyendo situaciones en las que por ejemplo el fenomeno no se observa a lo largo del espacio sino en el tiempo Es el caso de la reflectometria optica en el dominio del tiempo sensible a la fase donde multiples reflexiones de un punto coherente que se han generado en distintos instantes interfieren para producir una senal aleatoria en el dominio del tiempo 1 Referencias Editar Garcia Ruiz Andres 2016 Speckle Analysis Method for Distributed Detection of Temperature Gradients With F OTDR IEEE Photonics Technology Letters 28 18 2000 doi 10 1109 LPT 2016 2578043 Consultado el 7 de junio de 2017 Dandliker R Willemin J f 1980 Measurin microvibrations by heterodyne speckle interferometry Optics Letters 6 4 p 165 167 Bayon A Gascon F Varade A 1993 Measurement of the Longitudinal and Transverse Vibration Frequencies of a Rod by Speckle Interferometry IEEE Trans on Ultra Ferro and Freq Control 40 2 p 265 269 Enlaces externos EditarMedida de la rugosidad de superficies por interferometria de speckle Datos Q385216 Multimedia SpeckleObtenido de https es wikipedia org w index php title Interferometria de moteado amp oldid 118758266, wikipedia, wiki, leyendo, leer, libro, biblioteca,

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