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Microscopio de sonda de barrido

Abril 03, 2022

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Este aviso fue puesto el 23 de marzo de 2013.

Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981.

Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm).

Tipos de SPM

Hay gran variedad de microscopios de sonda de barrido, siendo los principales:
  • AFM, Microscopio de fuerza atómica (atomic force microscopy)[1]​
    • Contact AFM
    • Non-contact AFM
    • Dynamic contact AFM
    • Tapping AFM
  • BEEM, ballistic electron emission microscopy[2]​
  • CFM, chemical force microscopy
  • C-AFM, conductive atomic force microscopy[3]​
  • ECSTM electrochemical scanning tunneling microscope[4]​
  • EFM, electrostatic force microscopy[5]​
  • FluidFM, fluidic force microscope[6]​[7]​[8]​[9]​
  • FMM, force modulation microscopy[10]​
  • FOSPM, feature-oriented scanning probe microscopy[11]​
  • KPFM, kelvin probe force microscopy[12]​
  • MFM, magnetic force microscopy[13]​
  • MRFM, magnetic resonance force microscopy[14]​
  • NSOM, Microscopio óptico de campo cercano (near-field scanning optical microscopy o SNOM, scanning near-field optical microscopy)[15]​
  • PFM, Piezoresponse Force Microscopy[16]​
  • PSTM, photon scanning tunneling microscopy[17]​
  • PTMS, photothermal microspectroscopy/microscopy
  • SCM, scanning capacitance microscopy[18]​
  • SECM, scanning electrochemical microscopy
  • SGM, scanning gate microscopy[19]​
  • SHPM, scanning Hall probe microscopy[20]​
  • SICM, scanning ion-conductance microscopy[21]​
  • SPSM spin polarized scanning tunneling microscopy[22]​
  • SSRM, scanning spreading resistance microscopy[23]​
  • SThM, scanning thermal microscopy[24]​
  • STM, Microscopio de efecto túnel (scanning tunneling microscopy)[25]​
  • STP, scanning tunneling potentiometry[26]​
  • SVM, scanning voltage microscopy[27]​
  • SXSTM, synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy[28]​
  • SSET Scanning Single-Electron Transistor Microscopy[29]​

De estas técnicas, AFM y STM son los más comúnmente utilizados para las mediciones de rugosidad.

Véase también

Notas

  1. Binnig, G.; C. F. Quate; Ch. Gerber (3 de marzo de 1986). «Atomic Force Microscope». Physical Review Letters 56 (9): 930-933. Bibcode:1986PhRvL..56..930B. PMID 10033323. doi:10.1103/PhysRevLett.56.930. 
  2. Kaiser, W. J.; L. D. Bell (1988). «Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic-electron-emission microscopy». Physical Review Letters 60 (14): 1406-1409. Bibcode:1988PhRvL..60.1406K. PMID 10038030. doi:10.1103/PhysRevLett.60.1406. 
  3. Zhang, L.; T. Sakai, N. Sakuma, T. Ono, K. Nakayama (1999). «Nanostructural conductivity and surface-potential study of low-field-emission carbon films with conductive scanning probe microscopy». Applied Physics Letters 75 (22): 3527-3529. Bibcode:1999ApPhL..75.3527Z. doi:10.1063/1.125377. 
  4. Higgins, S. R.; R. J. Hamers (March 1996). «Morphology and dissolution processes of metal sulfide minerals observed with the electrochemical scanning tunneling microscope». Journal of Vacuum Science and Technology B 14 (AVS): 1360-1364. doi:10.1116/1.589098. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  5. Weaver, J. M. R.; David W. Abraham (1991). «High resolution atomic force microscopy potentiometry». Journal of Vacuum Science and Technology B 9 (3): 1559-1561. Bibcode:1991JVSTB...9.1559W. doi:10.1116/1.585423. 
  6. Meister, André; Gabi, Michael; Behr, Pascal; Studer, Philipp; Vörös, János; Niedermann, Philippe; Bitterli, Joanna; Polesel-Maris, Jérôme; Liley, Martha; Heinzelmann, Harry; Zambelli, Tomaso (2009). «FluidFM: Combining Atomic Force Microscopy and Nanofluidics in a Universal Liquid Delivery System for Single Cell Applications and Beyond». Nano Letters 9 (6): 2501-2507. Bibcode:2009NanoL...9.2501M. ISSN 1530-6984. doi:10.1021/nl901384x. 
  7. http://www.fluidfm.com
  8. http://www.nanosurf.com/fluidfm
  9. http://www.cytosurge.com
  10. Fritz, M.; M. Radmacher, N. Petersen, H. E. Gaub (May 1994). «Visualization and identification of intracellular structures by force modulation microscopy and drug induced degradation». The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy. The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy 12. Beijing, China: AVS. pp. 1526-1529. doi:10.1116/1.587278. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  11. R. V. Lapshin (2011). «Feature-oriented scanning probe microscopy» (PDF). En H. S. Nalwa, ed. Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology 14. USA: American Scientific Publishers. pp. 105-115. ISBN 1-58883-163-9. 
  12. Nonnenmacher, M.; M. P. O'Boyle; H. K. Wickramasinghe (1991). «Kelvin probe force microscopy». Applied Physics Letters 58 (25): 2921-2923. Bibcode:1991ApPhL..58.2921N. doi:10.1063/1.105227. 
  13. Hartmann, U. (1988). «Magnetic force microscopy: Some remarks from the micromagnetic point of view». Journal of Applied Physics 64 (3): 1561-1564. Bibcode:1988JAP....64.1561H. doi:10.1063/1.341836. 
  14. Sidles, J. A.; J. L. Garbini, K. J. Bruland, D. Rugar, O. Züger, S. Hoen, C. S. Yannoni (1995). «Magnetic resonance force microscopy». Reviews of Modern Physics 67 (1): 249. Bibcode:1995RvMP...67..249S. doi:10.1103/RevModPhys.67.249. 
  15. BETZIG, E.; J. K. TRAUTMAN, T. D. HARRIS, J. S. WEINER, R. L. KOSTELAK (22 de marzo de 1991). «Breaking the Diffraction Barrier: Optical Microscopy on a Nanometric Scale». Science 251 (5000): 1468-1470. Bibcode:1991Sci...251.1468B. PMID 17779440. doi:10.1126/science.251.5000.1468. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  16. Roelofs, A.; U. Bottger, R. Waser, F. Schlaphof, S. Trogisch, L. M. Eng (2000). «Differentiating 180° and 90° switching of ferroelectric domains with three-dimensional piezoresponse force microscopy». Applied Physics Letters 77 (21): 3444-3446. Bibcode:2000ApPhL..77.3444R. doi:10.1063/1.1328049. 
  17. Reddick, R. C.; R. J. Warmack; T. L. Ferrell (1 de enero de 1989). «New form of scanning optical microscopy». Physical Review B 39 (1): 767. Bibcode:1989PhRvB..39..767R. doi:10.1103/PhysRevB.39.767. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  18. Matey, J. R.; J. Blanc (1985). «Scanning capacitance microscopy». Journal of Applied Physics 57 (5): 1437-1444. Bibcode:1985JAP....57.1437M. doi:10.1063/1.334506. 
  19. Eriksson, M. A.; R. G. Beck, M. Topinka, J. A. Katine, R. M. Westervelt, K. L. Campman, A. C. Gossard (29 de julio de 1996). «Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures». Applied Physics Letters 69 (5): 671-673. Bibcode:1996ApPhL..69..671E. doi:10.1063/1.117801. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  20. Chang, A. M.; H. D. Hallen, L. Harriott, H. F. Hess, H. L. Kao, J. Kwo, R. E. Miller, R. Wolfe, J. van der Ziel, T. Y. Chang (1992). «Scanning Hall probe microscopy». Applied Physics Letters 61 (16): 1974-1976. Bibcode:1992ApPhL..61.1974C. doi:10.1063/1.108334. 
  21. Hansma, PK; B Drake, O Marti, SA Gould, CB Prater (3 de febrero de 1989). «The scanning ion-conductance microscope». Science 243 (4891): 641-643. Bibcode:1989Sci...243..641H. PMID 2464851. doi:10.1126/science.2464851. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  22. Wiesendanger, R.; M. Bode (25 de julio de 2001). «Nano- and atomic-scale magnetism studied by spin-polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy». Solid State Communications 119 (4-5): 341-355. Bibcode:2001SSCom.119..341W. ISSN 0038-1098. doi:10.1016/S0038-1098(01)00103-X. Consultado el 5 de octubre de 2009. 
  23. De Wolf, P.; J. Snauwaert, T. Clarysse, W. Vandervorst, L. Hellemans (1995). «Characterization of a point-contact on silicon using force microscopy-supported resistance measurements». Applied Physics Letters 66 (12): 1530-1532. Bibcode:1995ApPhL..66.1530D. doi:10.1063/1.113636. 
  24. Xu, J. B.; K. Lauger, K. Dransfeld, I. H. Wilson (1994). «Thermal sensors for investigation of heat transfer in scanning probe microscopy». Review of Scientific Instruments 65 (7): 2262-2266. Bibcode:1994RScI...65.2262X. doi:10.1063/1.1145225. 
  25. Binnig, G.; H. Rohrer, Ch. Gerber, E. Weibel (1982). «Tunneling through a controllable vacuum gap». Applied Physics Letters 40 (2): 178-180. Bibcode:1982ApPhL..40..178B. doi:10.1063/1.92999. 
  26. Vorlesungsskript Physikalische Elektronik und Messtechnik (en alemán)
  27. Trenkler, T.; P. De Wolf, W. Vandervorst, L. Hellemans (1998). «Nanopotentiometry: Local potential measurements in complementary metal--oxide--semiconductor transistors using atomic force microscopy». Journal of Vacuum Science and Technology B 16: 367-372. Bibcode:1998JVSTB..16..367T. doi:10.1116/1.589812. 
  28. Kalinin, Sergei V.; Gruverman, Alexei (Eds.), ed. (2011). «New Capabilities at the Interface of X-Rays and Scanning Tunneling Microscopy». Scanning Probe Microscopy of Functional Materials: Nanoscale Imaging and Spectroscopy (1st edición). Nueva York: Springer. pp. 405-431. ISBN 978-1-4419-6567-7. doi:10.1007/978-1-4419-7167-8_14. 
  29. Yoo, M. J.; Fulton, T. A. and Hess, H. F. and Willett, R. L. and Dunkleberger, L. N. and Chichester, R. J. and Pfeiffer, L. N. and West, K. W. (25 de abril de 1997). «Scanning Single-Electron Transistor Microscopy: Imaging Individual Charges.». Science 276 (5312): 579-582. doi:10.1126/science.276.5312.579. 
  •   Datos: Q907287
  •   Multimedia: Scanning probe microscopy

Abril 03, 2022
microscopio, sonda, barrido, este, artículo, sección, necesita, referencias, aparezcan, publicación, acreditada, este, aviso, puesto, marzo, 2013, microscopio, sonda, barrido, también, llamado, siglas, inglés, scanning, probe, microscopy, aquel, tiene, transmi. Este articulo o seccion necesita referencias que aparezcan en una publicacion acreditada Este aviso fue puesto el 23 de marzo de 2013 Un microscopio de sonda de barrido tambien llamado SPM por sus siglas en ingles Scanning Probe Microscopy es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente Objetivo 4x Este microscopio electronico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar La rama de microscopios SPM se fundo con la invencion del microscopio de efecto tunel en 1981 Su uso en investigaciones cientificas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente 10 000 000 nm Tipos de SPM EditarHay gran variedad de microscopios de sonda de barrido siendo los principales AFM Microscopio de fuerza atomica atomic force microscopy 1 Contact AFM Non contact AFM Dynamic contact AFM Tapping AFM BEEM ballistic electron emission microscopy 2 CFM chemical force microscopy C AFM conductive atomic force microscopy 3 ECSTM electrochemical scanning tunneling microscope 4 EFM electrostatic force microscopy 5 FluidFM fluidic force microscope 6 7 8 9 FMM force modulation microscopy 10 FOSPM feature oriented scanning probe microscopy 11 KPFM kelvin probe force microscopy 12 MFM magnetic force microscopy 13 MRFM magnetic resonance force microscopy 14 NSOM Microscopio optico de campo cercano near field scanning optical microscopy o SNOM scanning near field optical microscopy 15 PFM Piezoresponse Force Microscopy 16 PSTM photon scanning tunneling microscopy 17 PTMS photothermal microspectroscopy microscopy SCM scanning capacitance microscopy 18 SECM scanning electrochemical microscopy SGM scanning gate microscopy 19 SHPM scanning Hall probe microscopy 20 SICM scanning ion conductance microscopy 21 SPSM spin polarized scanning tunneling microscopy 22 SSRM scanning spreading resistance microscopy 23 SThM scanning thermal microscopy 24 STM Microscopio de efecto tunel scanning tunneling microscopy 25 STP scanning tunneling potentiometry 26 SVM scanning voltage microscopy 27 SXSTM synchrotron x ray scanning tunneling microscopy 28 SSET Scanning Single Electron Transistor Microscopy 29 De estas tecnicas AFM y STM son los mas comunmente utilizados para las mediciones de rugosidad Vease tambien EditarIN VSEENotas Editar Binnig G C F Quate Ch Gerber 3 de marzo de 1986 Atomic Force Microscope Physical Review Letters 56 9 930 933 Bibcode 1986PhRvL 56 930B PMID 10033323 doi 10 1103 PhysRevLett 56 930 Kaiser W J L D Bell 1988 Direct investigation of subsurface interface electronic structure by ballistic electron emission microscopy Physical Review Letters 60 14 1406 1409 Bibcode 1988PhRvL 60 1406K PMID 10038030 doi 10 1103 PhysRevLett 60 1406 Zhang L T Sakai N Sakuma T Ono K Nakayama 1999 Nanostructural conductivity and surface potential study of low field emission carbon films with conductive scanning probe microscopy Applied Physics Letters 75 22 3527 3529 Bibcode 1999ApPhL 75 3527Z doi 10 1063 1 125377 Higgins S R R J Hamers March 1996 Morphology and dissolution processes of metal sulfide minerals observed with the electrochemical scanning tunneling microscope Journal of Vacuum Science and Technology B 14 AVS 1360 1364 doi 10 1116 1 589098 Consultado el 5 de octubre de 2009 Weaver J M R David W Abraham 1991 High resolution atomic force microscopy potentiometry Journal of Vacuum Science and Technology B 9 3 1559 1561 Bibcode 1991JVSTB 9 1559W doi 10 1116 1 585423 Meister Andre Gabi Michael Behr Pascal Studer Philipp Voros Janos Niedermann Philippe Bitterli Joanna Polesel Maris Jerome Liley Martha Heinzelmann Harry Zambelli Tomaso 2009 FluidFM Combining Atomic Force Microscopy and Nanofluidics in a Universal Liquid Delivery System for Single Cell Applications and Beyond Nano Letters 9 6 2501 2507 Bibcode 2009NanoL 9 2501M ISSN 1530 6984 doi 10 1021 nl901384x http www fluidfm com http www nanosurf com fluidfm http www cytosurge com Fritz M M Radmacher N Petersen H E Gaub May 1994 Visualization and identification of intracellular structures by force modulation microscopy and drug induced degradation The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy The 1993 international conference on scanning tunneling microscopy 12 Beijing China AVS pp 1526 1529 doi 10 1116 1 587278 Consultado el 5 de octubre de 2009 R V Lapshin 2011 Feature oriented scanning probe microscopy PDF En H S Nalwa ed Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology 14 USA American Scientific Publishers pp 105 115 ISBN 1 58883 163 9 Nonnenmacher M M P O Boyle H K Wickramasinghe 1991 Kelvin probe force microscopy Applied Physics Letters 58 25 2921 2923 Bibcode 1991ApPhL 58 2921N doi 10 1063 1 105227 Hartmann U 1988 Magnetic force microscopy Some remarks from the micromagnetic point of view Journal of Applied Physics 64 3 1561 1564 Bibcode 1988JAP 64 1561H doi 10 1063 1 341836 Sidles J A J L Garbini K J Bruland D Rugar O Zuger S Hoen C S Yannoni 1995 Magnetic resonance force microscopy Reviews of Modern Physics 67 1 249 Bibcode 1995RvMP 67 249S doi 10 1103 RevModPhys 67 249 fechaacceso requiere url ayuda BETZIG E J K TRAUTMAN T D HARRIS J S WEINER R L KOSTELAK 22 de marzo de 1991 Breaking the Diffraction Barrier Optical Microscopy on a Nanometric Scale Science 251 5000 1468 1470 Bibcode 1991Sci 251 1468B PMID 17779440 doi 10 1126 science 251 5000 1468 Consultado el 5 de octubre de 2009 Roelofs A U Bottger R Waser F Schlaphof S Trogisch L M Eng 2000 Differentiating 180 and 90 switching of ferroelectric domains with three dimensional piezoresponse force microscopy Applied Physics Letters 77 21 3444 3446 Bibcode 2000ApPhL 77 3444R doi 10 1063 1 1328049 Reddick R C R J Warmack T L Ferrell 1 de enero de 1989 New form of scanning optical microscopy Physical Review B 39 1 767 Bibcode 1989PhRvB 39 767R doi 10 1103 PhysRevB 39 767 Consultado el 5 de octubre de 2009 Matey J R J Blanc 1985 Scanning capacitance microscopy Journal of Applied Physics 57 5 1437 1444 Bibcode 1985JAP 57 1437M doi 10 1063 1 334506 Eriksson M A R G Beck M Topinka J A Katine R M Westervelt K L Campman A C Gossard 29 de julio de 1996 Cryogenic scanning probe characterization of semiconductor nanostructures Applied Physics Letters 69 5 671 673 Bibcode 1996ApPhL 69 671E doi 10 1063 1 117801 Consultado el 5 de octubre de 2009 Chang A M H D Hallen L Harriott H F Hess H L Kao J Kwo R E Miller R Wolfe J van der Ziel T Y Chang 1992 Scanning Hall probe microscopy Applied Physics Letters 61 16 1974 1976 Bibcode 1992ApPhL 61 1974C doi 10 1063 1 108334 Hansma PK B Drake O Marti SA Gould CB Prater 3 de febrero de 1989 The scanning ion conductance microscope Science 243 4891 641 643 Bibcode 1989Sci 243 641H PMID 2464851 doi 10 1126 science 2464851 Consultado el 5 de octubre de 2009 Wiesendanger R M Bode 25 de julio de 2001 Nano and atomic scale magnetism studied by spin polarized scanning tunneling microscopy and spectroscopy Solid State Communications 119 4 5 341 355 Bibcode 2001SSCom 119 341W ISSN 0038 1098 doi 10 1016 S0038 1098 01 00103 X Consultado el 5 de octubre de 2009 De Wolf P J Snauwaert T Clarysse W Vandervorst L Hellemans 1995 Characterization of a point contact on silicon using force microscopy supported resistance measurements Applied Physics Letters 66 12 1530 1532 Bibcode 1995ApPhL 66 1530D doi 10 1063 1 113636 Xu J B K Lauger K Dransfeld I H Wilson 1994 Thermal sensors for investigation of heat transfer in scanning probe microscopy Review of Scientific Instruments 65 7 2262 2266 Bibcode 1994RScI 65 2262X doi 10 1063 1 1145225 Binnig G H Rohrer Ch Gerber E Weibel 1982 Tunneling through a controllable vacuum gap Applied Physics Letters 40 2 178 180 Bibcode 1982ApPhL 40 178B doi 10 1063 1 92999 Vorlesungsskript Physikalische Elektronik und Messtechnik en aleman Trenkler T P De Wolf W Vandervorst L Hellemans 1998 Nanopotentiometry Local potential measurements in complementary metal oxide semiconductor transistors using atomic force microscopy Journal of Vacuum Science and Technology B 16 367 372 Bibcode 1998JVSTB 16 367T doi 10 1116 1 589812 Kalinin Sergei V Gruverman Alexei Eds ed 2011 New Capabilities at the Interface of X Rays and Scanning Tunneling Microscopy Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy 1st edicion Nueva York Springer pp 405 431 ISBN 978 1 4419 6567 7 doi 10 1007 978 1 4419 7167 8 14 Yoo M J Fulton T A and Hess H F and Willett R L and Dunkleberger L N and Chichester R J and Pfeiffer L N and West K W 25 de abril de 1997 Scanning Single Electron Transistor Microscopy Imaging Individual Charges Science 276 5312 579 582 doi 10 1126 science 276 5312 579 Datos Q907287 Multimedia Scanning probe microscopy Obtenido de https es wikipedia org w index php title Microscopio de sonda de barrido amp oldid 140193282, wikipedia, wiki, leyendo, leer, libro, biblioteca,

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