La caracterización de materiales, cuando se habla de ciencia de materiales, hace referencia al proceso general y amplio por el cual la estructura de un material y sus propiedades son probadas y medidas. Es un proceso fundamental en el campo de la ciencia de materiales, sin el cual no se podría determinar un entendimiento científico de la ingeniería de materiales.[1][2] El alcance del término es a veces distinto; algunas definiciones limitan el uso del término a las técnicas que estudian la estructura microscópica y las propiedades de los materiales,[2] mientras que otras usan el término para referirse a cualquier proceso de análisis de materiales, incluyendo técnicas macroscópicas tales como pruebas de materiales, análisis térmico y cálculo de densidad.[3] La escala de las estructuras observadas en la caracterización de materiales va desde los ángstroms, como en la imagen de átomos individuales y enlaces químicos, hasta centímetros, como en la imagen de estructuras de grano grueso en los metales.
Aunque muchas técnicas de caracterización se han practicado por siglos, tales como la microscopía óptica básica, constantemente emergen nuevas técnicas y metodologías. En particular la invención del microscopio electrónico y la Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) en el siglo XX han revolucionado el campo, ayudándole a la imagen y análisis de estructuras y composiciones a escalas mucho más pequeñas de lo que antes era posible, llevando a un incremento importante en el nivel de comprensión en porqué distintos materiales muestran distintas propiedades y comportamientos.[4] Más recientemente, el microscopio de fuerza atómica ha incrementado aún más la resolución máxima posible para el análisis de ciertas muestras en los últimos 30 años.[5]
Existen para ello distintas técnicas de caracterización, de acuerdo al interés que despierte dicho material. Una vez conocidas las características del material puede establecerse la naturaleza del mismo, así como sus posibles aplicaciones.
Un ejemplo de ello es la caracterización de materiales semiconductores, lo cual es fundamental para establecer el uso posterior que puede dársele a los mismos. Otra aplicación muy útil es en el análisis de cargas térmicas, que forma parte del proceso de diseño de instalaciones de Aire Acondicionado, en el cual se toman en cuenta las propiedades térmicas de los materiales, tales como: Coeficiente de conductividad (Índice K), Transmitancia (Valor U), Resistencia e Inercia térmicas.
Referencias
Kumar, Sam Zhang, Lin Li, Ashok (2009). Materials characterization techniques. Boca Raton: CRC Press. ISBN1420042947.
↑ Leng, Yang (2009). Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods. Wiley. ISBN978-0-470-82299-9.
Zhang, Sam (2008). Materials Characterization Techniques. CRC Press. ISBN1420042947.
Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, University of Basel: Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zum Nanolabor, p. 8
Patent US4724318 - Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution - Google Patents
Datos:Q5073781
Septiembre 07, 2021
caracterización, materiales, véase, también, química, instrumental, caracterización, materiales, cuando, habla, ciencia, materiales, hace, referencia, proceso, general, amplio, cual, estructura, material, propiedades, probadas, medidas, proceso, fundamental, c. Vease tambien Quimica instrumental La caracterizacion de materiales cuando se habla de ciencia de materiales hace referencia al proceso general y amplio por el cual la estructura de un material y sus propiedades son probadas y medidas Es un proceso fundamental en el campo de la ciencia de materiales sin el cual no se podria determinar un entendimiento cientifico de la ingenieria de materiales 1 2 El alcance del termino es a veces distinto algunas definiciones limitan el uso del termino a las tecnicas que estudian la estructura microscopica y las propiedades de los materiales 2 mientras que otras usan el termino para referirse a cualquier proceso de analisis de materiales incluyendo tecnicas macroscopicas tales como pruebas de materiales analisis termico y calculo de densidad 3 La escala de las estructuras observadas en la caracterizacion de materiales va desde los angstroms como en la imagen de atomos individuales y enlaces quimicos hasta centimetros como en la imagen de estructuras de grano grueso en los metales La tecnica de caracterizacion por microscopio optico muestra la escala en micrometrica de la microestructura denditrica de una aleacion de bronce Aunque muchas tecnicas de caracterizacion se han practicado por siglos tales como la microscopia optica basica constantemente emergen nuevas tecnicas y metodologias En particular la invencion del microscopio electronico y la Secondary ion mass spectrometry SIMS en el siglo XX han revolucionado el campo ayudandole a la imagen y analisis de estructuras y composiciones a escalas mucho mas pequenas de lo que antes era posible llevando a un incremento importante en el nivel de comprension en porque distintos materiales muestran distintas propiedades y comportamientos 4 Mas recientemente el microscopio de fuerza atomica ha incrementado aun mas la resolucion maxima posible para el analisis de ciertas muestras en los ultimos 30 anos 5 Existen para ello distintas tecnicas de caracterizacion de acuerdo al interes que despierte dicho material Una vez conocidas las caracteristicas del material puede establecerse la naturaleza del mismo asi como sus posibles aplicaciones Un ejemplo de ello es la caracterizacion de materiales semiconductores lo cual es fundamental para establecer el uso posterior que puede darsele a los mismos Otra aplicacion muy util es en el analisis de cargas termicas que forma parte del proceso de diseno de instalaciones de Aire Acondicionado en el cual se toman en cuenta las propiedades termicas de los materiales tales como Coeficiente de conductividad Indice K Transmitancia Valor U Resistencia e Inercia termicas Referencias Editar Kumar Sam Zhang Lin Li Ashok 2009 Materials characterization techniques Boca Raton CRC Press ISBN 1420042947 a b Leng Yang 2009 Materials Characterization Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods Wiley ISBN 978 0 470 82299 9 Zhang Sam 2008 Materials Characterization Techniques CRC Press ISBN 1420042947 Mathys Daniel Zentrum fur Mikroskopie University of Basel Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild uber die Analyse zum Nanolabor p 8 Patent US4724318 Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution Google Patents Datos Q5073781Obtenido de https es wikipedia org w index php title Caracterizacion de materiales amp oldid 128771928, wikipedia, wiki, leyendo, leer, libro, biblioteca,
